UMET 太陽盲紫外相機(jī)測試系統(tǒng)是一款先進(jìn)的光學(xué)檢測設(shè)備性能，專門用于評估太陽盲紫外（SBUV）相機(jī)的性能各有優勢。這類相機(jī)專門探測波長范圍在240nm到280nm的紫外光，具有260nm的峰值敏感度重要方式，廣泛應(yīng)用于電暈現(xiàn)象檢測等特殊場景競爭激烈。

傳統(tǒng)的SBUV相機(jī)靈敏度測試通常采用高溫黑體方法投入力度，這種方式會受限于測試條件的影響，結(jié)果可能存在較大的誤差學習，甚至偏向?qū)μ柟饷舾校úㄩL超過280nm）的相機(jī)技術。UMET系統(tǒng)的誕生，成功解決了這一問題。

UMET系統(tǒng)采用260nm單色光源和可見光兩種波段進(jìn)行測試結構重塑，尤其是精準(zhǔn)使用與相機(jī)峰值敏感度相同的單色光源（260nm），從而真實(shí)反映出相機(jī)對電暈現(xiàn)象的實(shí)際敏感性空白區。與傳統(tǒng)方法相比貢獻法治，UMET避免了由于測試環(huán)境變化帶來的誤差，實(shí)現(xiàn)了更加準(zhǔn)確和客觀的測量結(jié)果應用優勢。

UMET系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì)相對較高，包含CDT準(zhǔn)直儀、UV260單色紫外光源、MRW8轉(zhuǎn)輪創新內容、目標(biāo)物套件以及專用控制軟件等模塊全方位。這些模塊相互協(xié)作，可模擬真實(shí)使用場景實踐者，精確評估相機(jī)性能指標(biāo)管理，包括最小可檢測輻照度（MDI）、等效噪聲輻射通量（NERE）豐富、事件計(jì)數(shù)響應(yīng)函數(shù)（ECRF）、可變目標(biāo)檢測性（VTD）、紫外分辨率我有所應、可見光分辨率深刻認識、中心對準(zhǔn)誤差、外圍對準(zhǔn)誤差和隨機(jī)位置誤差等系列。

UMET提供的軟件不僅支持紫外與可見光圖像采集明確相關要求，還可以精確計(jì)算對準(zhǔn)誤差和視場角（FOV），大幅提升了測試效率與準(zhǔn)確性方案。此外特點，系統(tǒng)還提供傳統(tǒng)黑體方法的可選模塊（HTB25D-1200黑體），滿足特殊用戶需求統籌發展。

針對成本敏感用戶品質，UMET還提供了簡化版本（UMET-S），移除昂貴的CDT準(zhǔn)直儀慢體驗，采用直接視圖方式進(jìn)行測試深化涉外，降低成本的同時(shí)，也滿足了基本性能評估需求左右。

作為市場上商用計(jì)算機(jī)化SBUV相機(jī)全面測試系統(tǒng)又進了一步，UMET不僅是科學(xué)研究機(jī)構(gòu)研發(fā)下一代紫外相機(jī)的重要工具，更是監(jiān)控和保障現(xiàn)有相機(jī)長期性能穩(wěn)定性的有效手段生產製造。UMET的誕生拓展基地，確立了SBUV相機(jī)性能測試的新標(biāo)準(zhǔn)。