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INFRAMET光電測(cè)試系統(tǒng)
光電測(cè)試系統(tǒng)
FT型熱像儀核心及IR FPA測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品廠地:上海市
更新時(shí)間:2025-05-29
廠商性質(zhì):代理商
訪問(wèn)量:96
021-52966696
產(chǎn)品分類
FT測(cè)試系統(tǒng)的FT-S配置(光譜參數(shù)測(cè)量)
紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件大數據。探測(cè)器電路(核心)的設(shè)計(jì)是熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。因?yàn)榧t外焦平面陣列的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限經驗,紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數(shù)方面的知識(shí)。因此長效機製,測(cè)量紅外焦平面陣列性能的測(cè)量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵進一步意見。
FT是一個(gè)完備的測(cè)試系統(tǒng),它產(chǎn)生精確控制時(shí)空分布的紅外等地,輻射到紅外焦平面的輸入平面來(lái)控制被測(cè)紅外焦平面產業;最后對(duì)被測(cè)紅外焦平面陣列(或熱像儀核心)進(jìn)行表征所需的輸出信號(hào)進(jìn)行半自動(dòng)分析。
該系統(tǒng)能夠測(cè)量熱像儀核心和紅外焦平面陣列的所有重要參數(shù)(噪聲/靈敏度共享應用、成像質(zhì)量和光譜參數(shù))工具。可測(cè)試不同光譜波段(LWIR或MWIR)情況較常見、冷卻或非冷卻的探測(cè)器市場開拓。FT系統(tǒng)可以在一系列版本中提供,并針對(duì)不同測(cè)試范圍的熱成像核心和紅外焦平面陣列進(jìn)行優(yōu)化喜愛,還可以選擇能夠測(cè)試完整的熱像儀的超擴(kuò)展版本環境。
FT測(cè)量系統(tǒng)一個(gè)模塊化的系統(tǒng),可以方便快速地配置成三個(gè)半獨(dú)立的測(cè)量工作站:FT-N保障,F(xiàn)T-I重要的角色,和FT-S。
1.FT-N——噪聲和響應(yīng)參數(shù)的測(cè)量體製;
2.FT-I——成像質(zhì)量參數(shù)的測(cè)量
3.FT-S——光譜參數(shù)測(cè)量要落實好。