FT型熱像儀核心及IR FPA測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品廠地
上海市
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廠商性質(zhì)
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更新時(shí)間
2025-05-29
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產(chǎn)品描述
紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件指導。探測(cè)器電路(核心)的設(shè)計(jì)是熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。因?yàn)榧t外焦平面陣列的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限兩個角度入手,紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專(zhuān)業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數(shù)方面的知識(shí)關註點。因此,測(cè)量紅外焦平面陣列性能的測(cè)量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵進入當下。
Inframet TFEV測(cè)溫儀測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品描述
TFEV測(cè)溫儀測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)發(fā)熱篩查用測(cè)溫儀建強保護。TFEV測(cè)試的概念是基于IEC 80601-2-59標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的“人體發(fā)熱篩檢測(cè)溫儀的基本安全性和基本性能的特殊要求”。
THP太赫茲相機(jī)測(cè)試系統(tǒng)
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THP太赫茲相機(jī)測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試被動(dòng)式太赫茲相機(jī)預下達,所使用的測(cè)試方法與LAFT熱像儀測(cè)試系統(tǒng)一致:一段距離外的參考靶標(biāo)經(jīng)被測(cè)熱像儀成像增持能力,分析生成的圖像質(zhì)量。能夠測(cè)試MRTD, MTF, NETD, FPN, 不均勻性, FOV創新為先。
inframetORI 光學(xué)鏡頭測(cè)試系統(tǒng)
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ORI 光學(xué)鏡頭測(cè)試系統(tǒng)是一臺(tái)通用型光學(xué)鏡頭測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以測(cè)量鏡頭的所有重要參數(shù):MTF統籌推進,分辨率行業內卷,EFL,畸變科普活動,漸暈凝聚力量,透過(guò)率關鍵技術,BFL,工作焦距,焦深有所提升,場(chǎng)曲,色差等參與能力。
Inframet OPO 望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)
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OPO望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)是一套用于測(cè)試光學(xué)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)的模塊化多功能測(cè)試系統(tǒng)法治力量,OPO測(cè)試系統(tǒng)支持一系列重要參數(shù)的測(cè)試:分辨率,MTF(軸上新的力量,離軸)技術研究,放大率,畸變建立和完善,視場(chǎng)特征更加明顯,透過(guò)率,漸暈啟用,出瞳距離,出瞳直徑,屈光度范圍活動上,視差等重要部署。被測(cè)望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)可以由這些參數(shù)來(lái)表征其性能。OPO測(cè)試系統(tǒng)對(duì)于望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)的生產(chǎn)商產業,采購(gòu)商或者維修站來(lái)說(shuō)都是優(yōu)良的測(cè)試工具數字技術。